静态/动态测量法
静态测量法:让主板暂停在某一特写状态下,根据电路逻辑原理或芯片输出与输入之间的逻辑关系,用万用表或逻辑笔测量相关点电平,来分析判断故障原因。
动态测量分析法:编制专用论断程序或人为设置正常条件,在机器运行过程中,用示波器测量观察有关组件的波形,并与正常的波形进行比较,以便判断故障部位。
由于主板上的控制逻辑集成度越来越高,因此其逻辑正确性,已经很难通过测量来判断。建议你先判断逻辑关系简单的芯片及阻容元件,然后再将故障集中在逻辑关系难以判断的大规模集成电路芯片。
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