考点：校对的方法、工序与制度

本章练习 高分考点

　　一、校对的基本方法

　　(一)对校法

　　对校法是比照原稿核对校样，使校样上的文字、符号、图、表、公式等内容与原稿完全相符，版式符合设计要求的校对方法。

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　　1.折校

　　优点：由于原稿和校样间距离短，校对人员的视力可集中在一个注视点上;又由于原稿和校样上的文字是对比着一个个地看，多字、漏宇容易被发现;在默念的过程中，脑、眼、手三者密切配合，有效地获得“一目两行”的妙用。

　　缺点：

　　由于以核对文字为主，容易忽略对内容的理解，不利于校是非;有时着重号、专名号容易被折缝或手指遮盖，导致漏校。

　　2.点校

　　优点是校对人员阅读原稿和校样的视野比较宽，便于看清原稿上的各种修改和标注。它的缺点是校对人员工作时头部要左右或上下摆动，两手也受到约束，容易疲劳。由于原稿与校样间距离较大，头部转动的间隔时间若稍长，则不容易把原稿上的文字、符号完全记住，很可能漏校或误校虚词、同音字、形似字、标点符号和形似外文符号等。

　　(二)本校法

　　(三)他校法

　　他校法常与本校法交叉运用

　　(四)理校法

　　二、校对的基本工序

　　由初校、二校、三校、香样、核红、通读、技术整理和对片/对蓝样等基本操作工序组成。

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考点习题